Karakterisasi SEM (Scanning Electron Microscopy) dan FESEM (Field Emission Scanning Electron Microscopy) adalah dua teknik mikroskopi yang digunakan untuk mengamati permukaan dan struktur permukaan benda-benda dalam resolusi tinggi. Kedua teknik ini menggunakan sinar elektron alih-alih cahaya untuk membentuk gambar, memungkinkan pengamatan pada skala nanometer.

SEM adalah teknik yang umum digunakan dalam ilmu material, biologi, dan berbagai bidang ilmu pengetahuan. Dalam SEM, sampel yang diamati dilapisi dengan lapisan tipis logam (biasanya emas) untuk meningkatkan konduktivitas dan menghindari pengisian muatan permukaan. Kemudian, suatu aliran elektron diarahkan pada permukaan sampel. Ketika elektron bersinggungan dengan permukaan, mereka berinteraksi dengan atom-atom dan menghasilkan sinyal yang digunakan untuk membuat gambar. Gambar SEM memberikan tampilan tiga dimensi dari permukaan sampel dengan detil yang tinggi, memungkinkan pengamatan tentang struktur permukaan, morfologi, dan ukuran butir.

FESEM adalah varian dari SEM yang menggunakan sumber elektron dengan emisi medan (field emission), menghasilkan resolusi gambar yang lebih tinggi dan intensitas sinyal yang lebih besar. Teknik ini cocok untuk mengamati struktur permukaan nanometer dan sub-nanometer. FESEM juga mampu menghasilkan gambar permukaan yang sangat rinci dan tajam dengan kejelasan yang luar biasa.

Kedua teknik ini sangat berharga dalam penelitian dan pengembangan material, ilmu biologi, ilmu kedokteran, serta berbagai bidang penelitian yang memerlukan pemahaman mendalam tentang morfologi permukaan dan struktur material. SEM dan FESEM telah memberikan wawasan yang luas tentang karakteristik benda-benda pada skala mikro dan nano, membantu dalam identifikasi, analisis, dan pemahaman tentang berbagai fenomena dan sifat material.